6/5/2023 7:35:38 AM
- صفحه اصلی
لایه نشانی
ساختار لایه
ضخامت سنجی
روشهای فیزیکی PVD
اسپاترینگ
روش MBE
تفنگ الکترونی
مقاومتی
روشهای شیمیاییCVD
CVD
MOCVD
PECVD
تمیزکاری نمونه
تمیزکاری چیست؟
آماده سازی داخلی
تمیزکاری شیشه
تمیزکاری ویفر سیلیکون
خلاء
پمپ های خلاء
پمپ روتاری
پمپ کرایوجنیک
پمپ توربومولکولار
پمپ دیفیوژن
فشارسنج خلاء
گیجهای یونی
گیج پیرانی
تاریخچه گیج خلاء
آنالیز
آنالیز پرتو باردار
برهمکنش الکترونی
میکروسکوپ الکترونی
میکروسکوپ TEM
SEM
آنالیز RBS
آنالیز SIMS
آنالیزپرتوایکس
آنالیز XRD
آنالیز XPS
آنالیزپرتو نور
آنالیزSpectrophotometery
آنالیزEllipsometer
میکروسکوپهای روبشی
درباره میکروسکوپهای SPM
میکروسکوپ روبشیAFM
میکروسکوپ روبشیSTM
میکروسکوپ روبشیSNOM
نرم افزارآنالیز
دانلود
فیلم آموزشی
فیلم در یوتیوب
کتاب
سایتهای مرتبط
معرفی کتب
کتب الکترونیکی
دانشگاههای ایران
سایتهای علمی
سمینارها
شرکتهای معتبر
شرکتهای معتبرداخلی
شرکت معتبر خارجی
لایه نشانی
شرکت اپتیکی
شرکت خلاء
ارتباط با ما
نظرات شما
فرم عضویت
ارسال فایل
درباره ما
Scanning Probe Microscopy
میکروسکوپ های پروبی روبشی
SPM
امروزه، بسیاری از کاربراني که به شكل هاي مختلف با آنالیز سطح و لایه نازک سروکار داشته اند،
در حالی که احتمالاً اطلاعات کافی از میکروسکوپ الکترونی SEM و TEM دارند اما اطلاعاتشان در
خصوص نسل نسبتاً جديدي از میکروسکوپ ها به نام میکروسکوپ های پروبی روبشی محدود و معمولاً ناقص است.
معمولاً اکثر آنها نیز میکروسکوپ های SPM را به عنوان یک میکروسکوپ جدید می شناسند که تنها اطلاعاتی در مورد توپوگرافی سطح می دهد. این در حالی است که دنیای میکروسکوپ های پروبی روبشی بسیار گسترده است و شامل آنالیز بسیاری از خواص سطح می شود که گاهاً میکروسکوپ های الکترونی، قادر به انجام آن نیستند.
SPM برخلاف برداشت اولیه، خود به تنهایی نشان دهنده یک میکروسکوپ خاص نیست بلکه نمایانگر یک مجموعه از میکروسکوپ ها با قابلیت های متفاوت است که برای تبیین خواص سطح در ابعاد نانومتری مورد استفاده قرارمی گیرد و در آنها سطح نمونه به جای الکترون با یک پروب خاص، روبش می شود. امروزه تقریباً هیچ آزمایشگاه پیشرفته ای در زمینه لایه نازک ، سطح و حوزه نانو وجود ندارد که در آن میکروسکوپ های روبشی وجود نداشته باشد.
ميكروسكوپ روبشي SPM بر اساس نوع عملكرد به صورت مد هاي مختلف وجود دارند. مدهاي AFM ، STM ، LFM ، MFM و SNOM مهم ترین مدهای مجموعه میکروسکوپ های روبشی هستند كه به كمك آنها مي توان اطلاعاتي در ارتباط با سطح لايه نازك استخراج نمود كه در ادامه به بررسي آنها خواهيم پرداخت.
شکل1:
تصويري نمادین از روبش نوك سوزني روي سطح نمونه
به طور کلی یک میکروسکوپ روبشی شامل چهار قسمت اصلی است:
1- پایه اصلی که مطابق شکل 2، شامل میز، صفحه شیشه ای و نگهدارنده روبشگر است.
2- روبشگرScanner
3-سیستم کنترل کننده
4- نرم افزار SPM
شکل2:
نمونه ای از پایه و روبشگر SPM ساخت شرکت
DME
قسمت های اصلی این میکروسکوپ عبارتند از:
1- میز X-Y
2-صفحه شیشه ای
3-روبشگر
4-نگهدارنده روبشگر
5-دوربینCCD
برای انجام آنالیز، ابتدا نمونه با دقت روی پایه قرار می گیرد و سطح نمونه به وسیله یک پروب خاص که روی روبشگر سوار شده، روبش می شود. سیگنال های ناشی از روبش پروب مطابق شکل3، به سمت کنترلر می رود و این اطلاعات پس از پردازش اولیه در کنترلر مطابق شكل به کامپیوتر منتقل می شود. نرم افزار موجود روی کامپیوتر پس از پردازش مجدد داده های دریافتی از کنترلر شروع به بازسازی تصویر و تشکیل تصاویر متعدد(دو یا سه بعدی) در حالت های مختلف می نماید.
شکل3:
نماي شماتيك از يك نمونه سامانه SPM ، 1ـ کامپیوتر، 2ـ كنترلر، 3ـمیکروسکوپ
منبع : کتاب مبانی لایه نشانی و آنالیز نانو ساختار تالیف آقای جهانبخش مشایخی، انتشارات مرکز نشر دانشگاهی
فیلم آموزشی در مورد میکروسکوپ های روبشی SPM
«
«
منبع علمی: کتاب مبانی لایه نشانی و آنالیز نانوساختار تالیف آقای جهانبخش مشایخی کلیه حقوق مادی و معنوی متعلق به Thin film science می باشد.