6/5/2023 8:43:27 AM
- صفحه اصلی
لایه نشانی
ساختار لایه
ضخامت سنجی
روشهای فیزیکی PVD
اسپاترینگ
روش MBE
تفنگ الکترونی
مقاومتی
روشهای شیمیاییCVD
CVD
MOCVD
PECVD
تمیزکاری نمونه
تمیزکاری چیست؟
آماده سازی داخلی
تمیزکاری شیشه
تمیزکاری ویفر سیلیکون
خلاء
پمپ های خلاء
پمپ روتاری
پمپ کرایوجنیک
پمپ توربومولکولار
پمپ دیفیوژن
فشارسنج خلاء
گیجهای یونی
گیج پیرانی
تاریخچه گیج خلاء
آنالیز
آنالیز پرتو باردار
برهمکنش الکترونی
میکروسکوپ الکترونی
میکروسکوپ TEM
SEM
آنالیز RBS
آنالیز SIMS
آنالیزپرتوایکس
آنالیز XRD
آنالیز XPS
آنالیزپرتو نور
آنالیزSpectrophotometery
آنالیزEllipsometer
میکروسکوپهای روبشی
درباره میکروسکوپهای SPM
میکروسکوپ روبشیAFM
میکروسکوپ روبشیSTM
میکروسکوپ روبشیSNOM
نرم افزارآنالیز
دانلود
فیلم آموزشی
فیلم در یوتیوب
کتاب
سایتهای مرتبط
معرفی کتب
کتب الکترونیکی
دانشگاههای ایران
سایتهای علمی
سمینارها
شرکتهای معتبر
شرکتهای معتبرداخلی
شرکت معتبر خارجی
لایه نشانی
شرکت اپتیکی
شرکت خلاء
ارتباط با ما
نظرات شما
فرم عضویت
ارسال فایل
درباره ما
آنالیزهای
سطح و
لایه نازک
برهم کنش بین ذرات باردار
با لا
یه نازک
برهم کنش بین
پرتو ایکس
با
لایه نازک
برهم کنش بین
پرتو نور
با لایه نازک
میکروسکوپ الکترونی
روبشی
SEM
میکروسکوپ الکترونی عبوری
TEM
میکروسکوپ پروبی روبشی
SPM
میکروسکوپ پروبی روبشی
AFM
میکروسکوپ روبشی تونلینگ
STM
آ
نالیز سطح و لایه به روش
SIMS
آ
نالیز
سطح و لایه به روش RBS
آنالیز
سطح و لایه به روش XRD
آنالیز
سطح و لایه به روش XPS
آ
نالیزطیفی به روش بیضی سنجی
آنالیز
طیفی به روش اسپکتروفتومتر
لایه نشانی و پارامترهای آن
ساختار تشکیل لایه
روش
تفنگ الکترونی E_Beam Gun
روش
تبخیر
مقاومتی Resistant Ev
روش
کندوپاش Sputtering
لایه نشانی به روش
لیرزی PLD
لایه نشانی به روش
MBE
لایه نشانی شیمیایی CVD
لایه نشانی شیمیایی
PECVD
لایه نشانی شیمیایی
MOCVD
درباره خلاء
پمپ روتاری Rotary Pump
پمپ توربومولکولارTurbomolecular
پمپ کرایوجنیک Cryojenic Pump
پمپ
دیفیوژن Diffusion Pump
تاریخچه فشارسنج های نخستین
فشارسنجهای محدوده خلاء پایین
فشارسنج یونی
کاتد سرد و گرم
کنترل ضخامت
ضخامت سنجی اپتیکی
ض
خامت سنجی کریستالی
QCM
Plasma Enhanced Deposition
لايه نشاني PECVD
يکی از روشهاي مورد نياز برای انجام لايه نشانی در فناوری ليزرها، سامانه لايه نشاني PECVD است كه اغلب برای انباشت اکسيدها و نيتريدها استفاده میشود. لايه نشاني در يك راكتور با درجه حرارت حدود 400 درجه سلسيوس صورت گرفته و پلاسماي ايجاد شده، انرژي مورد نياز براي واكنش را (حتی در يك دماي به مقدارکم400-250 درجه) به میزان دلخواه افزايش ميدهد.
در این سیستم kنسبت به حالت سنتی، یک منبع تولید پلاسما به سیستم اضافه شده است. یکی دیگر از مزایای عمده این روش کاهش دمای انباشت نسبت به روش های معمولی می باشد در حالیکه به واسطه انرژی پشتیبان حاصل از پلاسما که به مولکول های گاز وارد می شود، کمبود انرژی جنبشی جبران می شود.
همان طور که در شکل1، مشخص است تفاوت اصلی، افزوده شدن یک مولد رادیو فرکانس برای تولید پلاسما است.
شكل1):
الف- سامانه لايه نشاني استاندارد ب- سیستم های PECVD تک ویفری عمودی
گاهی اوقات ممكن است كه از دو چشمه پلاسما در سیستم CVD استفاده شود. استفاده از دو چشمه پلاسما موجب می شود که چگالی پلاسما و انرژی یون به صورت مستقل تنظیم شوند. به عنوان مثال مبدل 13.56مگا هرتز، چگالی پلاسما و مبدل فرکانس پایین 350 کیلو هرتز، انرژی یون ها را تعیین می کنند. سیستم های PECVD مطابق شكل2، مي تواند ساختار افقي داشته باشد.
شكل2):
نماي شماتيك از يك سامانه PECVD افقی
خواص اكسيدها و نيتريد سيليكن انباشت شده با اين روش كاملاً با موارد به دست آمده از روش LPCVD كه در دماهاي بالاتر انجام ميشود متفاوت است. اين خواص شامل سختي سطح و استوكيومتري است كه در نتيجه منجر به تغييرات در صافي سطح، ثابت ديالكتريك و ضريب شكست و غيره ميشود.
در جدول 1 متداول ترین واکنش های شیمیایی مورد نیاز برای ساخت بعضی از لایه های فیزیکی و شیمیایی آمده است. در جدول1 شرايط مختلف براي لايه نشاني هاي لايه هاي آمده است. در اين جدول گازهاي مورد نياز براي تشكيل لايه، نوع سامانه لايه نشاني شيميايي، نوع تركيب و درجه حرارت مورد نياز آمده است.
جدول1: شرايط لايه نشاني براي تشكيل لايه هاي متداول
منبع : کتاب مبانی لایه نشانی و آنالیز نانو ساختار تالیف آقای جهانبخش مشایخی، انتشارات مرکز نشر دانشگاهی
فیلم آموزشی در مورد روش PECVD
توضیحات بیشتر توسط آقای مهندس ابوالحسن علیمرادی
مبانی لایه نشانی PECVD